產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
美國(guó)EDAX能譜儀
EP6美國(guó) Cascade Microtech EP6探針臺(tái)
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
ET4000日本Kosaka輪廓儀（臺(tái)階儀）
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心低溫設(shè)備
低溫強(qiáng)磁場(chǎng)共聚焦樣品桿 物性表征-低溫光學(xué)? 低溫強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下的共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成像測(cè)試
更新時(shí)間：2024-06-17
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：1965
低振動(dòng)光學(xué)型恒溫器。超低振動(dòng)， 低溫拉曼、 熒光、 紅外、 太赫茲、 MOKE及低溫物性測(cè)試
更新時(shí)間：2024-06-17產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1657
無(wú)液氨低振動(dòng)低溫磁場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng).萬(wàn)物”皆可轉(zhuǎn)－多種物性測(cè)量轉(zhuǎn)角測(cè)試。 多種測(cè)試選件如電學(xué)、磁學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)。溫度范圍4.2 K -325 K,最大磁場(chǎng)1T／3T／5T可選·頂部插桿式（Toploading)可快速更換樣品。·樣品在靜態(tài)氨氣中快速冷卻。·系統(tǒng)自動(dòng)抽真空及填充氨氣 ·雙通道控溫，溫度穩(wěn)定性優(yōu)于10mK。·多種測(cè)試選件如電學(xué)、磁學(xué)＼熱學(xué)、光學(xué) ·多種旋轉(zhuǎn)物性測(cè)試FMR/STFMR
更新時(shí)間：2024-06-17產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1491