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光學(xué)表面缺陷分析儀
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產(chǎn)品分類Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對(duì)玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測(cè)。Lumina AT1既能夠檢測(cè)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料,又能對(duì)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測(cè),其價(jià)格優(yōu)勢(shì)使其成為適合于研發(fā)/小批量生產(chǎn)過程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。
更新時(shí)間:2024-06-17
產(chǎn)品型號(hào):Lumina
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